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6JA干涉顯微鏡是用來測量精密加工零件表面（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器。也可以用來測量零件表面刻線、刻槽鍍層（透明）等深度。儀器配以各種附件，還能測量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面。同時(shí)還能將儀器安置在工件上，對大型工件表面進(jìn)行測量。儀器測量表面不平深度范圍為1-0.03微米，用測微目鏡和照明方法來評定▽10-▽14光潔度的表面。

9J光切法顯微鏡具有相同頻率及振動(dòng)方向和恒定相位差的光線，在空間疊加會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象，這就是光波的干涉原理。利用光波的干涉原理和顯微鏡非接觸檢測特點(diǎn)對試樣表面上高度極微小差別進(jìn)行測量。

LWD200-37T采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，配置長工作距離平場物鏡與大視野目鏡。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。旋轉(zhuǎn)擺入擺出式聚光系統(tǒng)，可對高培養(yǎng)皿或圓筒狀燒瓶進(jìn)行無沾染培養(yǎng)細(xì)胞觀察。落射熒光顯微系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)理念，可以安全、快揵地調(diào)整照明系統(tǒng)，切換熒光濾色片組件。

LW150PT偏光顯微鏡被廣泛應(yīng)用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域，利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的儀器， 可供廣大用戶做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察等等。